X射线荧光光谱仪
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XDAL 237 SDD X射线荧光光谱仪是一种无损、快速、简单且准确的材料成分分析方法。其最显著的质量包括无需或最少的样品制备、非破坏性分析以及与固体、液体和粉末样品的兼容性。
应用：
- 涂层厚度和薄膜测量
- 电子合规性 RoHS 筛选
- 合金分析/材料可靠性鉴定 (PMI)
- 金属检测
- 缺陷分析
- 污染物鉴定
- 焊锡空洞
- PCB 的元素成像
- 离子迁移
规格：
- 可调X射线管高压：10KV； 30KV； 50KV
- 可编程电机驱动 XY 载物台
- 与发射器同步的摄像机允许连续监测样品上的位置，从而可以在分析之前定位感兴趣的区域
- XRF 的材料分析模式提供从铝 (Z=13) 到铀 (Z=92) 的分析范围，可准确实现 0.1% 至 100% 的检测
- 100µm 的最小准直仪尺寸允许对感兴趣的小区域进行 XRF 分析
- 厚度测量模式提供了确定已知材料层深度的能力
- 基本参数 (FP) 校准模式可测量 1~4 层，不需要或很少需要标准
- “Empirical”感兴趣区域 (ROI) 校准可在提供全套标准时实现最高精度
- 最大行程：X/Y轴：255 x 235mm； Z轴：140mm
- 可用样品放置区域：W 300 x D 350mm
- 最大样品重量：5kg
- 最大样品高度：140mm
*此中文设备简介为英文版本译本，如中、英文两个版本有任何抵触或不相符之处，应以英文版本为准。
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